SFRA परीक्षण क्या है?

A SFRA टेस्ट, जिसके लिए खड़ा हैस्वीप आवृत्ति प्रतिक्रिया विश्लेषण, एक अत्यधिक संवेदनशील और गैर-इनवेसिव डायग्नोस्टिक तकनीक है जिसका उपयोग मुख्य रूप से आकलन करने के लिए किया जाता हैबिजली ट्रांसफार्मर की यांत्रिक और विद्युत अखंडता(और कभी -कभी अन्य उपकरण जैसे रिएक्टरों, जनरेटर, या बुशिंग्स) . यह ट्रांसफार्मर के "इलेक्ट्रिकल फिंगरप्रिंट" को मापकर काम करता है।

यहाँ यह एक टूटना है कि यह क्या है, यह कैसे काम करता है, और यह महत्वपूर्ण क्यों है:

मुख्य सिद्धांत:

एक कम-वोल्टेज साइनसोइडल सिग्नल को ट्रांसफार्मर के एक घुमावदार में इंजेक्ट किया जाता है .

प्रतिक्रिया संकेत (वोल्टेज या वर्तमान) को दूसरे घुमावदार (या कभी -कभी एक ही वाइंडिंग) . पर मापा जाता है

यह आवृत्तियों की एक विस्तृत स्वीप में दोहराया जाता है, आमतौर पर से20 हर्ट्ज (या कम) 2 मेगाहर्ट्ज (या उच्चतर) तक.

अंतरण कार्य।

"फिंगरप्रिंट" अवधारणा:

परिणामी आवृत्ति प्रतिक्रिया प्लॉट उस समय के समय उस ट्रांसफार्मर के विशिष्ट भौतिक और विद्युत ज्यामिति के लिए अद्वितीय है .

यह इंडक्शन, कैपेसिटेंस और वाइंडिंग, कोर, क्लैम्पिंग स्ट्रक्चर्स और अन्य आंतरिक घटक . के प्रतिरोधों की जटिल बातचीत को दर्शाता है

इसे ट्रांसफार्मर के अद्वितीय "हस्ताक्षर" या "फिंगरप्रिंट ." की तरह सोचें

उद्देश्य और यह क्या पता लगाता है:

यांत्रिक परिवर्तन/क्षति का पता लगाता है:यह SFRA . की प्राथमिक शक्ति है, यहां तक ​​कि भौतिक संरचना में सूक्ष्म परिवर्तन भी आवृत्ति प्रतिक्रिया प्लॉट को बदल देते हैं . यह पता लगा सकता है:

घुमावदार विरूपण:रेडियल बकलिंग, अक्षीय विस्थापन, झुकाव, घेरा बकलिंग .

घुमावदार विस्थापन:कोर या अन्य वाइंडिंग के सापेक्ष पूरे वाइंडिंग की शिफ्ट .

कोर आंदोलन:कोर लैमिनेशन या कोर क्लैम्पिंग स्ट्रक्चर को शिफ्ट या नुकसान .

ढीली वाइंडिंग:क्लैम्पिंग दबाव का नुकसान .

दोषपूर्ण ऑन-लोड टैप चेंजर (OLTC) संपर्क:विशिष्ट नल पदों में खराब संपर्क .

शॉर्टेड टर्न:(हालांकि अन्य परीक्षण जैसे कि अनुपात या कम वोल्टेज आवेग (LVI) शुरू में अधिक प्रत्यक्ष हो सकते हैं, SFRA प्रभाव दिखा सकता है) .

शिपिंग, हैंडलिंग, या दोष से नुकसान:शॉर्ट-सर्किट बलों, भूकंपीय घटनाओं, या किसी न किसी परिवहन के कारण होने वाली क्षति का पता लगाता है .

यह निदान के लिए कैसे काम करता है:

तुलना महत्वपूर्ण है:सबसे शक्तिशाली नैदानिक ​​दृष्टिकोण हैतुलना करनावर्तमान SFRA माप:

बेसलाइन माप:जब ट्रांसफार्मर नया था, स्वस्थ, या प्रमुख सेवा के बाद (गोल्ड स्टैंडर्ड) .

चरण:समान चरणों की तुलना करें (e . g ., चरण a hv से lv बनाम . चरण b hv से lv) .

घुमावदार जोड़े:समान मापों की तुलना करें (e . g ., hv-lv vs . hv-lv) .

पिछले माप:समय के साथ ट्रैक परिवर्तन .

विचलन का विश्लेषण:भूखंडों के आकार, परिमाण, या गुंजयमान आवृत्तियों में महत्वपूर्ण विचलन एक शारीरिक परिवर्तन या समस्या का संकेत देते हैं . विशेषज्ञों का विश्लेषणकहाँआवृत्ति स्पेक्ट्रम में विचलन समस्या के संभावित प्रकार और स्थान को इंगित करने के लिए होते हैं:

कम आवृत्तियों (<1 kHz):मुख्य रूप से कोर मैग्नेटाइजेशन और थोक वाइंडिंग मूवमेंट . को प्रतिबिंबित करें

मध्य आवृत्तियों (1 kHz - 100 kHz):मुख्य वाइंडिंग के भीतर और वाइंडिंग के बीच विकृति और विस्थापन के प्रति संवेदनशील .

High Frequencies (>100 kHz):लीड, टैप चेंजर्स और स्थानीय घुमावदार विकृति के साथ मुद्दों के प्रति संवेदनशील .

प्रमुख अनुप्रयोग और लाभ:

शर्त का आकलन:ट्रांसफार्मर स्वास्थ्य निदान और जीवन विस्तार कार्यक्रमों के लिए महत्वपूर्ण उपकरण .

कमीशन:सत्यापित करें कि शिपिंग/इंस्टॉलेशन के दौरान कोई नुकसान नहीं हुआ (फ़ैक्टरी बेसलाइन की तुलना साइट माप से करें) .

दोषों के बाद:फॉल्ट्स के माध्यम से आंतरिक क्षति का आकलन करें (नेटवर्क पर लघु सर्किट) .

निवारक रखरखाव:विकासशील समस्याओं की पहचान करें इससे पहले कि वे भयावह विफलता का कारण बनें .

गुणवत्ता नियंत्रण:विनिर्माण और मरम्मत के दौरान .

गैर-इनवेसिव और ऑफ़लाइन:ट्रांसफॉर्मर डी-एनर्जाइज्ड के साथ प्रदर्शन किया गया, केवल कम-वोल्टेज कनेक्शन की आवश्यकता होती है . को तेल की आवश्यकता नहीं होती है या टैंक को खोलना नहीं है .

अत्यधिक संवेदनशील:बहुत मामूली यांत्रिक परिवर्तनों का पता लगा सकते हैं जो अन्य परीक्षण . को याद कर सकते हैं

उद्देश्यपरक डेटा:विश्लेषण और तुलना के लिए ग्राफिकल, मात्रात्मक परिणाम प्रदान करता है .